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本发明提供一种基于延迟单元的芯片训练方法及装置，属于芯片测试技术领域，本发明的基于延迟单元的芯片训练方法，通过增加延迟单元来扩展初始信号眼图的宽度，可以确保对信号的全面采集，包括了信号的完整周期性变化，从而获得更精确的训练数据，在分段扫描出...
该专利属于上海奎芯集成电路设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海奎芯集成电路设计有限公司授权不得商用。

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