温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请属于缺陷检测技术领域，具体公开了一种Micro LED显示器缺陷检测方法及装置，其中方法包括：获取待测Micro LED显示器目标区域内包含疑似缺陷的感兴趣区域的区域信息，感兴趣区域的区域信息基于初检设备对目标区域拍摄的第一图像确定，...
该专利属于武汉精立电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精立电子技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。