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本发明涉及物理分析技术领域，具体涉及一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法，包括：获取同一待测样品的多个放射性薄层色谱图，分析每个峰的差异性、差异均值和变异系数，结合展开缸内的温度值进行调控，计算每个峰的峰态离差值及温度调控有效峰。最后...
该专利属于陕西正泽生物技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过陕西正泽生物技术有限公司授权不得商用。

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