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本发明公开了一种芯片测试方法及芯片测试装置，包括：获取来自上位机的第一测试指令；根据第一测试指令，读取已连接的多个测试卡座的接口信息，得到测试卡座列表；接收由多个测试卡座中任一测试卡座发送的第一配置参数；根据第一配置参数确定发送第一配置参数...
该专利属于联和存储科技（江苏）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联和存储科技（江苏）有限公司授权不得商用。

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