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一种包括至少一个半导体元件的功率半导体模块的处理方法，所述至少一个半导体元件包括金属氧化物半导体元件和/或金属绝缘体半导体元件，所述方法包括：a.获取与模块的栅极氧化物的初始健康状态相对应的第一值V<subgt;soh,0</s...
该专利属于三菱电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三菱电机株式会社授权不得商用。

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