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本发明涉及芯片检测技术领域，且公开了一种芯片检测设备，包括检测机架、待检芯片，待检芯片的两侧均设置有若干个等距的针脚，检测机架的顶部设置有第一半开放套座、丝杠传动机构、检测仪。该芯片检测设备及检测方法，通过设置的两组检测探针组件、检测仪、检...
该专利属于上海仪电智能电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海仪电智能电子有限公司授权不得商用。

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