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本发明公开了一种芯片的算力性能指标的测试方法、装置和存储介质。其中，该方法包括：对待测试芯片进行分割处理，得到多个单核区域块；分别确定多个单核区域块对应的单核整数算力性能指标和单核浮点算力性能指标，得到多个单核整数算力性能指标和多个单核浮点...
该专利属于中国第一汽车股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国第一汽车股份有限公司授权不得商用。

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