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本发明公开了一种可用于硅基非晶固态薄膜荧光量子效率的测量方法。本发明首先，测量未放入样品的积分球中所有的激发光子总数φ<subgt;0</subgt;(λ<subgt;exc</subgt;)；其次，将样品放入积分球...
该专利属于金陵科技学院所有，仅供学习研究参考，未经过金陵科技学院授权不得商用。

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