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用于对晶圆的金属污染进行分析的设备及其方法技术
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文档序号:42479625
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一种用于对晶圆的金属污染进行分析的设备及其方法,该方法包括:获得晶圆的第一金属的污染水平和第二金属的污染水平;通过将所获得的第二金属的污染水平代入到相关性方程中来获得校正值;以及通过基于校正值对所获得的第一金属的污染水平进行校正来获得第一金...
该专利属于爱思开矽得荣株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过爱思开矽得荣株式会社授权不得商用。
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