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本发明公开了一种半导体分立器生产用检测装置，具体涉及半导体检测装置技术领域，包括机台，所述机台上端固定连接有物料传动带，所述物料传动带外表面曲线部分固定连接有若干半导体固定结构，所述机台上端中部固定连接有半导体检测结构，所述物料传动带中心轴...
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