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应用于集成封装芯片焊盘强度改善方法技术
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文档序号:42377444
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本发明公开了应用于集成封装芯片焊盘强度改善方法,涉及半导体集成封装技术领域,本发明包括以下步骤:S1:首先准备临时承载基板及临时承载膜,并在临时承载膜上布置微芯片,具体过程如下:S101:首先确定临时承载基板和临时承载膜材料,再对临时承载基...
该专利属于扬州君瑞得科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过扬州君瑞得科技有限公司授权不得商用。
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