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一种半导体反应腔室制造技术
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文档序号:42000778
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本技术涉及半导体制造技术领域,更具体的说,涉及一种半导体反应腔室。本技术提供了一种半导体反应腔室,至少包括喷淋板上盖、抽气环、上盖板:所述喷淋板上盖,设置在腔体的上盖板上;所述抽气环,位于喷淋板上盖与上盖板之间;其中,所述喷淋板上盖的四周设...
该专利属于拓荆科技(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过拓荆科技(上海)有限公司授权不得商用。
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