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一种探测深度范围和深度分辨率可调节的频域光学相干层析成像方法及其系统,将变周期光栅用于频域光学相干层析成像,通过调节光栅周期和探测器的横向位置,改变频域干涉信号的光谱探测宽度和光谱探测分辨率,从而实现探测深度范围和深度分辨率可调节的频域光学...该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。
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一种探测深度范围和深度分辨率可调节的频域光学相干层析成像方法及其系统,将变周期光栅用于频域光学相干层析成像,通过调节光栅周期和探测器的横向位置,改变频域干涉信号的光谱探测宽度和光谱探测分辨率,从而实现探测深度范围和深度分辨率可调节的频域光学...