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本申请涉及芯片测试技术领域，提出了一种双极型芯片的性能测试方法，包括：获取芯片测试数据序列；以芯片测试数据序列中每个数据为中心构建左特征序列和右特征序列，根据左、右特征序列的极值差异特征和数据分布特征分别计算离散震荡强度和极值紧密显著权重，...
该专利属于北京七星华创微电子有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京七星华创微电子有限责任公司授权不得商用。

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