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本发明公开一种平场校正方法及系统，预先设置有一补光仓库，补光仓库中包括多个用于对荧光扫描仪进行平场校正的数据模板，每个数据模板具有设定好的标准扫描参数；则方法包括：于补光仓库中查找是否存在有数据模板的标准扫描参数与需要获取的荧光显微图像的实...
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