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本申请提供一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质，本申请中的缺陷检测方法包括：响应缺陷检测事件，获取所述缺陷检测事件对应的目标检测对象的目标检测数据；对所述目标检测数据进行多视角特征提取，得到所述目标检测数据对应的目标对象特征，所述目标对象...
该专利属于格创东智（深圳）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过格创东智（深圳）科技有限公司授权不得商用。

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