温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种Flash芯片的在板测试系统及测试方法，涉及数字电路测试，其中测试系统包括：主机、待测产品、母板、USB‑JTAG转接器、电源；所述待测产品至少含有一片待测Flash芯片，且待测Flash芯片挂载在处理器上；所述母板上设置有...
该专利属于中国电子科技集团公司第二十九研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第二十九研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。