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一种芯片设计试验检测装置制造方法及图纸
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下载一种芯片设计试验检测装置的技术资料
文档序号:41545213
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本技术涉及芯片检测装置技术领域,公开了一种芯片设计试验检测装置,包括检测机构、顶部机构和控制机构,所述检测机构的顶端设置有顶部机构,所述顶部机构的左侧设置有控制机构;所述检测机构包括操作台,所述操作台的底端固定连接有支撑底板,所述操作台的内...
该专利属于苏州晶耀信息科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州晶耀信息科技有限公司授权不得商用。
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