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本技术公开了一种芯片老化测试装置风道结构，设置在芯片老化测试装置的壳体内部，所述壳体内部具有测试仓，所述芯片老化测试装置风道结构包括散热通道、换热通道、进风通道以及出风通道，所述进风通道及所述出风通道分别位于所述测试仓相对的两侧面，且所述进...
该专利属于上海菲莱测试技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海菲莱测试技术有限公司授权不得商用。

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