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本发明涉及一种基于线阵追焦的回转体瑕疵检测方法和装置，方法包括：将待测的回转体安装在可控转台上，通过可控转台驱动回转体旋转到不同的测量位置，在不同测量位置下，根据线阵成像模组与回转体当前被测区域之间的相对位姿信息，调整线阵成像模组的空间位姿...
该专利属于上海交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海交通大学授权不得商用。

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