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本发明公开了一种适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法，可以将芯片内部的时钟信号通过构建时钟选择模块、时钟链模块，经过测试功能信号、压缩功能信号、扫描链功能信号等相关控制及输入信号的激励，最终输出为复位信号。本方法可以实现通过芯片内部产生复...
该专利属于西安电子科技大学杭州研究院所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学杭州研究院授权不得商用。

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