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本申请公开了一种芯片接口测试方法、控制方法以及芯片接口测试系统，方法应用于芯片接口测试电路，测试电路包括FPGA逻辑测试模块、时钟PLL模块和电源模块，FPGA逻辑测试模块的高速SERDES接口与待测芯片连接，方法包括：控制电源模块对FPG...
该专利属于珠海微度芯创科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海微度芯创科技有限责任公司授权不得商用。

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