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本技术公开了一种半导体晶圆检测装置，包括装置主体，所述装置主体的上端外表面中部设置有放置移动板，所述装置主体的上端外表面两侧固定连接有调节组件，所述调节组件的上端外表面活动连接有支撑架，所述支撑架的下端外表面固定连接有检测机构。本技术所述的...
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