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一种ATE测试信号的延时测量方法、装置、设备及介质制造方法及图纸
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下载一种ATE测试信号的延时测量方法、装置、设备及介质的技术资料
文档序号:41233925
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本发明公开了一种ATE测试信号的延时测量方法、装置、设备及介质,包括:获取待测的目标信号,根据目标信号的开始脉冲将目标信号输入至延迟进位链逻辑电路;延迟进位链逻辑电路包括多个级联的进位电路,尾端进位电路连接非门,非门的输出和第一进位电路的输...
该专利属于赵延洲所有,仅供学习研究参考,未经过赵延洲授权不得商用。
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