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本发明公开了一种用于集成电路测试机中测试向量的替换方法及系统，涉及测试技术领域，包括将测试向量和替换数据A存储到DDR中，载入通道配置信息和替换长度信息，构建替换数据有效率评估模型，分析替换数据有效情况；将有效的替换数据A进行预处理获取替换...
该专利属于南京博芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京博芯科技有限公司授权不得商用。

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