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本申请涉及计算机技术领域并提供一种用于集成电路设计规则检查的方法、计算机设备及介质。方法包括：从第一集成电路设计相关联的第一集成电路版图中提取第一物理参数；从第一集成电路设计相关联的第一仿真结果中提取与第一金属线对应的第一电压压降分布；基于...
该专利属于芯耀辉科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯耀辉科技有限公司授权不得商用。

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