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本技术属于电子测试技术领域，具体公开了一种功率芯片测试装置，包括外框架，所述外框架的外表面设置有操控台，所述外框架的顶部活动安装有测试板，所述外框架的顶部设置有用于确定测试板安装位置的推紧机构，所述测试板的外表面开设有压弧槽，所述外框架的顶...
该专利属于南京莱芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京莱芯科技有限公司授权不得商用。

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