温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及半导体测试技术领域，具体是一种高精度自动补偿测试方法，能够减少叠加输出的误差累积，通过高精度ADC采集负载端电压差，数据传给FPGA进行处理取VI源输出值与高精度测量值进行差值计算，再通过修正Offset传给VI源输出，通过这种模...
该专利属于南京宏泰半导体科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京宏泰半导体科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。