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本发明公开了一种五轴机床探测方法、系统、电子设备及可读介质，该探测方法包括：探针以第一进给速度对探测点进行探测，得到探测点在工件坐标系下的第一探测坐标；探针以第二进给速度对探测点进行探测，得到探测点在工件坐标系下的第二探测坐标，第一进给速度...
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