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本发明公开了一种智能卡老化测试方法、装置及存储介质，方法包括：获取终端发送的选择应用指令，并根据选择应用指令选择应用；获取终端发送的更新自检指令；根据更新自检指令进行应用的写入事务，写入事务表征分别将第一数据和第二数据写入目标区，并生成返回...
该专利属于星汉智能科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过星汉智能科技股份有限公司授权不得商用。

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