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本发明公开了一种反射式角分辨太赫兹发射谱测量装置及方法，属于太赫兹谱技术领域，包括架体，架体内设置有平面反射镜和离轴抛物面镜一，离轴抛物面镜一纵向前侧设置有位移台一，位移台一右侧设置有斩波器，斩波器纵向前侧设置有半透半反镜，离轴抛物面镜一左...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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