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本公开提供一种存储芯片测试方法、存储装置检测方法及相关设备，属于集成电路技术领域。存储芯片测试方法包括：获得所述存储芯片的测试结果；若根据所述存储芯片的测试结果，确定所述存储芯片内的不合格存储单元数量少于或等于k个，k为大于或等于1的正整数...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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