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本发明公开了一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统，被测物是至少带两条并列引脚的电气元件，包括水平的直线传送单元；直线传送单元的传送尽头端设置有可转动的分拣滚筒，直线传送单元上传送的电气元件的两条并列引脚均水平朝向分拣滚筒一侧；分拣滚筒远离直...
该专利属于武汉软件工程职业学院（武汉开放大学）所有，仅供学习研究参考，未经过武汉软件工程职业学院（武汉开放大学）授权不得商用。

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