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本技术提供一种感光芯片的测试装置，包括：光源单元，光源单元包括箱体和顶板，顶板下表面设置有白光光源，箱体底部两侧向外延伸出侧板；芯片测试座包括测试座上盖，测试座上盖包括上盖侧壁和从上盖侧壁向内延伸出的延伸台；测试座上盖的中间区域设置有镜头，...
该专利属于豪威半导体（太仓）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过豪威半导体（太仓）有限公司授权不得商用。

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