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本发明适用于芯片封装测试技术领域。本发明公开一种带助力机构的芯片测试载板，包括载板本体和与载板本体转动连接的助拔器，该载板本体设有收纳固定测试板的收纳腔，在该收纳腔内设有多个避空结构和对测试板进行定位的销钉，以及设于相邻避空结构之间使测试板...
该专利属于深圳市立可自动化设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市立可自动化设备有限公司授权不得商用。

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