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本技术公开了一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，包括测试台、调节组件，所述测试台外壁安装有调节组件，所述调节组件包括：第一电机、滚珠丝杆、限位滑杆和第一滑块，所述测试台外壁侧面安装有第一电机，所述第一电机外壁侧面安装有第一转轴，所述...
该专利属于西安翰源辰芯半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安翰源辰芯半导体技术有限公司授权不得商用。

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