下载一种芯片测试方法的技术资料

文档序号:40660667

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本发明公开了一种芯片测试方法,本发明涉及芯片技术领域。通过网线,将芯片的TX和RX短接,由MCU发包再读回来,验证包完整性,MCU的MAC通过RGMII接口连接PHY芯片,PHY芯片通过带网络变压器的RJ45与外部网络相连,完成网络物理转,...
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