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本发明公开了一种基于神经网络和分布算法的多芯片并行筛选方法，包括：获取具有多个目标芯片的目标检测芯片组的电性能数据；将目标检测芯片组的电性能数据输入训练完备的类transformer神经网络，得到重构的电性能数据；训练完备的类transfo...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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