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本发明公开了一种PD芯片的暗电流测试电路及系统，涉及芯片测试技术领域，包括控制器、测试单元、第一运算放大器、多个采样电阻及第一多路模拟开关，多个所述采样电阻为不同数量级阻值的电阻，所述第一运算放大器的反相端与待测试的PD芯片连接、同相端接地...
该专利属于武汉光谷信息光电子创新中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉光谷信息光电子创新中心有限公司授权不得商用。

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