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一种铁电薄膜退极化时间的测量方法技术
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文档序号:4050750
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本发明公开了一种铁电薄膜退极化时间的测量方法,其特征在于:包括下列步骤:(1)在铁电薄膜上分别设置上电极和下电极,构成金属/薄膜/金属电容器结构,将测量系统置于电磁屏蔽罩及暗室中;(2)在上述电容器结构上施加外加电场;(3)撤除外加电场,等...
该专利属于苏州大学所有,仅供学习研究参考,未经过苏州大学授权不得商用。
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