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本发明公开一种集成电路单粒子效应的高效仿真方法、装置和电子设备，涉及计算机模拟仿真领域。方法包括：在故障注入模式为定点故障注入的情况下，通过指定的故障注入节点生成包含故障注入的第一电路网表和第一仿真运行文件；在故障注入模式为随机故障注入的情...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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