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本申请提供了一种半导体芯片制造流程匹配方法、设备和存储介质，涉及制造半导体器件的方法和设备技术领域，其中方法包括：对请求内容进行特征提取和特征工程，得到特征向量；将特征向量输入至预先训练好的相似度模型中，得到相似度模型输出的流程信息和对应的...
该专利属于上海朋熙半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海朋熙半导体有限公司授权不得商用。

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