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本发明涉及图像处理领域，尤其涉及一种X射线能谱探测器能级测定方法与装置。该方法包括向能级计算模体照射X射线，分别得到双层X射线能谱探测器上层和下层输出的能级计算模体的第一图像和第二图像，根据预设的物质分解系数，对第一图像和第二图像进行物质分...
该专利属于深圳市安健科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市安健科技股份有限公司授权不得商用。

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