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本发明提出一种激光器测试系统,包括光谱分析仪,用于测试激光器输出激光的光谱特性;多个工位,工位用于放置被测试的激光器;光开关,光开关与工位通过第一光纤耦合,光开关与光谱分析仪通过第二光纤耦合,光开关用于分时地将工位与光谱分析仪光路连通。本发...该专利属于天津凯普林光电科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过天津凯普林光电科技有限公司授权不得商用。
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本发明提出一种激光器测试系统,包括光谱分析仪,用于测试激光器输出激光的光谱特性;多个工位,工位用于放置被测试的激光器;光开关,光开关与工位通过第一光纤耦合,光开关与光谱分析仪通过第二光纤耦合,光开关用于分时地将工位与光谱分析仪光路连通。本发...