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待测设计的验证方法及装置制造方法及图纸
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文档序号:40214636
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本发明实施例提供了待测设计的验证方法及装置,方法包括:将待测数据输入DUT,获取DUT在多个目标检测点的第一输出结果;每一目标检测点对应于DUT中的一个待测子设计,待测子设计是基于DUT的寄存器转换基级RTL描述,根据数据流在DUT内的特定...
该专利属于格创通信(浙江)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过格创通信(浙江)有限公司授权不得商用。
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