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本技术涉及测量装置技术领域，提供一种变形测量装置。变形测量装置包括：架体；测量部件，设于所述架体，包括光学测距传感器和控制仪，所述光学测距传感器设有多个，所述光学测距传感器与所述控制仪信号连接，用以对试件进行测量；多个调节部件，多个所述调节...
该专利属于北京环科环保技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京环科环保技术有限公司授权不得商用。

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