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本发明的目的在于提供基于同轴腔法高温高压下材料介电性能测试系统及方法，属于微波介电性能测试技术领域。本发明测试系统主要包括渐变型开路同轴谐振腔、加热装置和压力发生装置，通过将待测吸波材料放置于渐变型开路同轴谐振腔腔内，利用加热装置和压力发生...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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