温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种基于瞬态电致发光测量有机半导体迁移率的方法，涉及光电子器件测试技术领域，该方法在瞬态电致发光法的基础上，利用相同材质有机半导体薄膜的厚度差异会导致瞬态电致发光时间的不同，进而根据μ＝|(d<subgt;1</su...该专利属于季华恒烨（佛山）电子材料有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过季华恒烨（佛山）电子材料有限公司授权不得商用。
温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种基于瞬态电致发光测量有机半导体迁移率的方法，涉及光电子器件测试技术领域，该方法在瞬态电致发光法的基础上，利用相同材质有机半导体薄膜的厚度差异会导致瞬态电致发光时间的不同，进而根据μ＝|(d<subgt;1</su...