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公开了半导体装置以及操作和测试存储器装置的方法。所述存储装置的操作方法包括：将测试图案编程到在正常区域中，获得关于测试图案的错误位的位置和每个错误位位置的错误计数，以及基于错误位的位置和错误计数，用冗余区域中的冗余单元修复包括在正常区域中的...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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