下载一种冷原子团密度的测量方法的技术资料

文档序号:39946315

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本发明涉及一种冷原子团密度的测量方法,包括构建中心磁场为0的梯度磁场和匀强偏置磁场;将探测光与所述冷原子团中磁场零点共振;通过时序控制模块改变磁场零点在冷原子团中的位置,与此同时,收集所述探测光与磁场零点处的冷原子团的共振信号,获得磁场零点...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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